1、祠(剌匀怢讀缁缀琀犠頀h惏椀謂崂崃崃鴃魸彥桴搀漀挀瀀椀挀最椀昀魸彥桴搀漀挀搀漀挀尀尀愀挀挀挀戀戀攀昀愀昀戀挀搀搀攀猀爀攀刀瀀猀一嘀戀椀唀甀爀刀一最洀琀倀昀爀倀爀甀最爀昀堀嘀匀唀儀一瀀最魸彥鬀彥愀搀愀攀挀攀戀戀搀挀愀攀腑桴腑桴祑魸彥缀鹢焀甀甀祑瞍喃卛偧沖晹扛榖癸琀步饘輀愀薉啑獟獟萀批卛唠癓琀唠癓琀批卛琠卥扏癎鉨W盿琠卥扏灮倀W葓婮鑶非鑶萀腣腎龉婮批卛縀洀洀洀洀抑罎盿抑批卛舠舠抑腥睿炋批卛攀磿漰驒蒏獶T葔鱾葧荫批卛低屑蒕犞低屑犞批卛渠葰灶蒈瀀批卛佛蹙萀鵶湏佛蹙批卛眀卑灏湥鹎豛鱾靧膋魣佑批卛鐠批卛腑桴腑桴祑魸彥缀鹢焀甀甀祑瞍喃卛偧沖晹扛榖癸琀步饘鸀豛倠啨洀洀倠啨洀洀批卛惿脰萰啶灏愀脰葑啶灏戀脰癑蒉啶
2、灏挀葑啶灏儀砀愀夀琀眀圀樀爀欀搀唀攀渀唀瘀伀吀嘀嘀漀一倀猀漀刀伀戀夀挀匀最渀砀(剌匀怢讀缁缀琀犠頀h惏栀$国家标准碳化硅抛光片微管密度无损检测方法意见处理表.docpic1.gif国家标准碳化硅抛光片微管密度无损检测方法意见处理表.doc.doc2019-105a8cccb78-b45e-45f8-82a8-8012f54bc0ddesreRpsNVbiUIuCrR3NgmtEP1fHGrP9ru3gr6G3BfXVSU5QC3B/Npg=碳化硅抛光片微管密度无损检测方法,国家标准,碳化硅,抛光,微管,密度,无损,检测,方法,意见,处理344811adae626c560eb13b4481d8c
3、2ae标准征求意见稿意见汇总处理表标准征求意见稿意见汇总处理表 标准项目名称：碳化硅抛光片微管密度无损检测方法 承办人：张玮 共 2 页 第 1 页 标准项目负责起草单位：北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所 电 话：010-82649320 2012年 7 月 10 日填写 序 号 标准章 条编号 意见内容提出单位处理意见 备 注 11.2 将“在几微米”改为“在 1 微米” ，以便与 2.1.1 的叙述一致。 中科院半导体 所 2 采纳 22.1.1 “单晶沿 C 轴方向”改为“单晶中沿 C 轴 方向 中科院半导体 所 2 采纳 33 “整体面上晶格排列均匀” ，其中“整体
4、面 上”所指不清晰 “经过与 P1 成 90将是均匀的光线” 该句含义不清楚； “反映出相应得差别”改为“反映出相应 的差别” ； “或 100 倍下观察”改为“100 倍下观察” 总之， “方法提要”部分主要原理没有叙述 清楚。 中科院半导体 所 2 采纳，该 部分重新 组织语句 44.4 “12mm”改为 2mm，以便统一标准； “以保证测量面积足够”改为“以避免重 复测量，并保证测量面积足够” 中科院半导体 所 2 采纳 54.4 “如图 2 所示”改为“如图 3 所示” 改为“以保证测量面积足够，同时要保证 微管缺陷不被重复计数” 中科院半导体 所 1 采纳 64.4 补充：x 方向与
5、主、副定位边的关系，以 便对同一样品的不同次测量结果的比较。 中科院半导体 所 2 采纳 75 “两个偏光镜的为黑色”改为“两个偏 光镜后，观察视野为黑色” 中科院半导体 所 2 采纳 86 “n-测量点的数目”改为“测量行的总行 数” 中科院半导体 所 2 采纳 97 相对偏差不大于 15%的依据？可否改为相 对偏差不大于 6%？ 中科院半导体 所 2 不采纳， 具体数据 以实验报 告结果得 出。 107 精密度测试要提供标准偏差 中科院半导体 所 1 采纳 118 “应控制样片”含义不清 中科院半导体 所 2 采纳 标准征求意见稿意见汇总处理表标准征求意见稿意见汇总处理表 标准项目名称：碳
6、化硅抛光片微管密度无损检测方法 承办人：张玮 共 2 页 第 2 页 标准项目负责起草单位：北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所 电 话：010-82649320 2012年 7 月 10 日填写 12 实验 报告 A.2.1 “坐标单位为 mm.。 ”改为“坐标单位为 mm。 ” 中科院半导体所 1 采纳 说明：发送征求意见稿的单位数：4 个； 收到征求意见稿后，回函的单位数： 3 个； 收到征求意见稿后，回函并有建议或意见的单位数：3 个 没有回函的单位数：1 个。 剑客先生0001200001可研报告20191005232625163471xa281IDYtw7WCj+I
7、6Ir/6kdFI1Uen4JUGvOTA5VLVoNPIIG/soKRO3bYKcDSgBnxG黠栀(剌栀匀%栀讀缁琀頀h鐀怩椀甂襸晓遒簀蒑驭豻葸驭搀漀挀瀀椀挀最椀昀襸晓遒籬蒑驭豻葸驭搀漀挀搀漀挀尀尀昀搀戀愀愀昀昀攀攀倀礀搀眀刀倀唀挀挀漀甀娀唀嘀圀娀吀漀瘀挀甀儀一一挀瀀愀襸晓遒簀蒑驭豻葸驭襸晓遒簀蒑驭豻葸驭İ晓遒驭愀昀搀昀愀搀搀昀愀夀匀吀堀堀堀堀一焀谀爀帀夀匀吀堀堀堀堀堀壿堀壿堀堀壿堀壿堀鸀匀夀匀襸晓遒簀蒑驭豻葸驭攀琀攀爀洀椀渀愀琀椀漀渀攀琀攀爀洀椀渀愀琀椀漀渀漀昀漀昀戀漀爀漀渀戀漀爀漀渀愀渀搀愀渀搀瀀栀漀猀瀀栀漀爀甀猀瀀栀漀猀瀀栀漀爀甀猀挀漀渀挀攀渀琀爀愀琀椀漀渀挀漀渀挀攀渀琀爀愀琀椀漀渀
8、椀渀椀渀猀椀氀椀挀漀渀猀椀氀椀挀漀渀瀀漀眀搀攀爀瀀漀眀搀攀爀戀礀戀礀挀栀攀洀椀挀愀氀挀栀攀洀椀挀愀氀愀渀愀氀礀猀椀猀愀渀愀氀礀猀椀猀倀愀爀琀倀愀爀琀椀猀洀甀琀栀瀀栀漀猀瀀栀漀洀漀氀礀戀搀愀琀攀戀氀甀攀椀猀洀甀琀栀瀀栀漀猀瀀栀漀洀漀氀礀戀搀愀琀攀戀氀甀攀猀瀀攀挀琀爀漀瀀栀漀琀漀洀攀琀爀椀挀猀瀀攀挀琀爀漀瀀栀漀琀漀洀攀琀爀椀挀洀攀琀栀漀搀洀攀琀栀漀搀昀漀爀昀漀爀搀攀琀攀爀洀椀渀愀琀椀漀渀搀攀琀攀爀洀椀渀愀琀椀漀渀漀昀漀昀瀀栀漀猀瀀栀漀爀甀猀瀀栀漀猀瀀栀漀爀甀猀椀渀椀渀猀椀氀椀挀漀渀猀椀氀椀挀漀渀瀀漀眀搀攀爀瀀漀眀搀攀爀乎煬豑豎潏夀匀吀堀堀堀堀襸晓遒籬蒑驭糿葸驭葸驭桵牧庑聓塙叿吀癑剞瞍喃僿煎停聹偧汎
9、睒喃聹偧汎腎瞉鬀獛覂一栀穔脀攀罙玉夀匀吀堀堀堀堀襸晓遒簀蒑驭蒑驭昀缠葑塎鑔捧麉豛屝葏鹶豾癑蒀襶桛頀缰厐葟襶桛豑敔盿獧骉葛慶骉虛襸蒑驭蹵襸蒑驭驭廿蝵吀帀晓遒吀遒貋豨貋夀匀吀襸腣襸嵾硸硬葎嵎硸碔牦抂楔缀渀洀皑盿鞋擿禖該骉罗豾鹔豛l吀豎葬硸貑硬最挀洀匀嵭硸最挀洀硬最挀洀崀硸硬崀硸最崀硸躔洀崀硸碔最碔躔洀欀歎硸最騀歎硸貔最欀歎硸躉洀需佢碈夀蝎最需佢碈蹮洀奬蝎貑洀叿墍洀最洀最硸貑蹮泿洀lN甀最洀墍洀踀洀N桎豖榑遒獙鉨洀洀嬀呻葶夀匀吀堀堀堀堀遒敧馋最縀最湼最稀絺貋輀馋婥穐絺貋驭馋湥蹿榑敒洀匀嵭硸拿扡硬葔襵牥葔敒硬洀跿癜襵叿銁紀楔洀瑑贀敒洀帀洀襰抑榗洀葓卭獥瑑葎汭斏洀萀汔葔敒歑歎硸洀崰硸洀碔洀霰伀碈夀蝎洀马
10、湥洀椀渀挀洀屬軿渀洀挰摢窖絺屝靧屝洀萀潰癔敒甀最洀洀跿潰敒硬洀贀罰鉒葰獐楔洀卭瑑潰葎鵭汫洀萀汔葔敒歑歎硸洀崰硸洀碔洀霰伀碈夀蝎洀马湥洀椀渀挀洀屬軿渀洀挰摢屝葾偪偾屝遒鱾葧鞋葸灒烿栀汣鞋瀀眀瀀洀洀眀屝靧葟嗿會洀馋葥嗿柿洀鞋鱾桧灜慠鞃葟鱾葧驭葑獶蕖鰀葧蕎偠勿藿偠勿蓿蕎偠勿栀瀀湥蕠靬栀倀眀夀匀吀堀堀堀堀刀狿匀爀叿爀鸀豛遒鱾葧鑐蹙桎栀葸灒帀帀帀貋遒鱾癓桑貋塎儀猀瀀焀堀倀栀甀唀欀欀昀稀儀椀堀氀伀甀漀礀搀搀琀圀圀爀欀琀堀唀礀匀瀀娀渀氀戀洀甀稀堀吀瘀椀瘀堀(剌匀怒讀缁獀頀h惏椀焂嬄宄嬄挄眄缄缄缄襸晓遒簀蒑驭糿葸驭搀漀挀瀀椀挀最椀昀襸晓遒籬蒑驭糿葸驭搀漀挀搀漀挀尀尀愀挀昀戀愀挀戀愀戀攀昀愀搀吀嘀椀瘀圀礀猀搀儀
11、倀倀堀挀倀刀瀀瀀匀攀夀栀圀戀礀琀挀漀琀稀猀焀稀戀椀一洀椀儀襸晓遒簀蒑驭糿葸驭襸晓遒簀蒑驭糿葸驭İ晓遒驭敎搀昀搀搀搀戀搀挀搀攀搀挀搀挀昀簀儀唀一愀猀戀焀甀砀嘀刀猀渀栀儀栀圀愀昀甀洀匀樀眀伀礀一嘀儀椀攀攀焀砀愀倀攀圀吀砀欀爀圀唀洀眀洀渀堀刀乐通、刘国霞。 YS/T XXX-XXXX 1 硅粉中碳含量的测定 1 范围 本标准规定了工业硅粉中碳含量的高频燃烧红外吸收光谱法碳含量的测定方法。 本标准适用于工业硅粉中碳含量的测定，测定范围为0.005%1.0%。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本 文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版
12、本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 2881 工业硅 3 方法提要 在助溶剂存在的情况下，试样在通入氧气的高频感应燃烧炉中燃烧，碳转化成为二氧化碳（或一 氧化碳）由氧气引入红外吸收池，通过红外线检测器检测二氧化碳（或一氧化碳）对特定波长的红外 线吸收能，其吸收能与碳的浓度关系成正比，由此测得试样中的总碳含量。 4 试剂 4.1 无二氧化碳水：将去离子水煮沸 30min，冷却到室温，通氧气（4.2）使其气泡 15min，使用时制 备。 4.2 氧气：质量分数大于 99.5%。 4.3 纯铁助溶剂：碳含量低于 0.0008%（质量分数） 。 4.4 锡助溶剂：碳含量低于 0.0008%
13、（质量分数） 。 4.5 钨助溶剂：碳含量低于0.0008%（质量分数） 4.6 碳酸钠（基准物质）：干燥无水碳酸钠。使用前在285条件下烘干，置于干燥器中冷却。 4.7 碳酸钠标准储存溶液（25 g/L）：称取110.25g碳酸钠（ 4.6），溶解于300ml水中，移入500ml 容量瓶中，稀释到刻度，混匀。此溶液1mL 含25mg碳。 4.8 锡囊：用碳含量低于0.001（质量分数）锡纸精确称量至0.200g，折叠成圆筒状。 5 仪器和设备 5.1 高频感应红外碳硫仪。 5.2 电子天平：0.1mg。 5.3 高瓷坩埚：燃烧炉专用。使用前将瓷坩埚置于高温非密闭马弗炉中 1100灼烧不少于
14、2h，然后 存于干燥器中待用。 6 分析步骤 YS/T XXX-XXXX 2 6.1 样品的制备 将试样粒度通过40目筛孔直径，用磁铁吸去铁粉。充分混匀试样，缩分法取样。在105 2 烘干2h，保存于干燥皿中备用。 6.2 仪器工作参数 参见附录。 6.3 试样 6.3.1 称样量： 0.2g，准确至0.001。 6.3.2 称样方法：先称0.500g0.001纯铁助熔剂（4.3）和0.200g0.001的锡助溶剂（4.4）均 匀垫于坩埚底，再按（6.3.1）称试料于坩埚中间，试料上面再覆盖1.0000.001钨助熔剂 （4.5）。 6.4 空白实验 仪器分析前的准备参见附录。按下列分析方法重
15、复做空白实验：先称0.500g0.001纯铁助熔 剂（4.3）和0.200g0.001的锡助溶剂（4.4）垫坩埚底，上面再覆盖1.000.001钨助熔剂 （4.5）。测定碳含量，得出碳的空白值。求出其中三次测量的空白平均值（m1）。三次空白值的偏差 应不超过0.001%。如果这些值差别很大，需要找出原因消除污染源。 6.5 碳标准系列的配制 6.5.1 制备碳标准系列 分取碳酸钠标准储存溶液（4.8）到6个250ml 容量瓶中，用水稀释到刻度，混匀。用微量移液管 （5.2）各移取100L稀释液到6个锡囊上，于90烘干2，在干燥器中冷却到室温。由此得到碳 含量校准系列样品，见表。 表 碳校准系列
16、的制备 标准溶液体积 /mL 稀释溶液中的碳量 mg/mL 锡囊中的碳量 /mg 样品中的含碳量 /% 0000 40.40.040.02 1010.10.05 2020.20.1 1001010.5 2002021 6.5.2 碳标准系列的测定 加0.500g0.001纯铁助熔剂（4.3）垫坩埚底，分别轻压个锡囊到坩埚底部纯铁之上，加盖 1.000.001钨助熔剂（4.5），燃烧，测定含碳量，每个碳量级别至少进行三次实验，用适当标 准样进行系统线性调节，检查校准后的线性关系，如必要，还可进一步校准工作曲线。 6.5.3 建立碳校准曲线 校准系列的各个测定读数减去空白值得到实际读数，绘制这些读
17、数与对应碳量的校准曲线。 仪器可利用空白扣除技术建立校准曲线，然后直接进行样品中碳的测定。 YS/T XXX-XXXX 3 6.6 试样分析 加0.500g0.001纯铁助熔剂（4.3）和0.200g0.001的锡助溶剂（4.4）垫坩埚（5.4）底， 再按（6.3.1）称试料于坩埚中间，然后按空白试验的操作程序（6.4）进行测定。 7 分析结果的计算 从校准曲线上查出试样的分析数据对应的毫克数，按公式（1）计算碳的质量分数： W(碳)= （m m）100%103/G (1) 式中： W总碳的质量分数，； m试料中总碳含量，单位为毫克（mg）； m空白中总碳含量，单位为毫克（mg）； G试料的质
18、量，单位为克（）。 计算结果保留三位有效数字。 8 精密度 9 试验报告 试验报告应包括下列内容： a) 试样； b) 使用的标准（包括发布或出版年号）； c) 分析结果及其表示； d) 与基本分析步骤的差异； e) 测定中观察到的异常现象； f) 试验日期。 YS/T XXX-XXXX 4 附 录 A （资料性附录） 仪器的工作参数 A.1 高频感应炉功率：一般大于2500。 A.2 氧气流量：3 L/min 4 L/min。 A.3 碳最短分析时间：一般35s，短周期30s。 YS/T XXX-XXXX 5 附 录 B （资料性附录） 仪器分析前的准备 B.1 仪器的准备 清扫和吸除炉膛、
19、基座杆、过滤器沾附的粉尘，除去生成的氧化物，擦拭矩管，喷氧锥；按推荐 分析工作条件设定技术参数，按厂家推荐时间开机预热，使仪器的各部件达到稳定。 B.2 分析前的准备 应先选择几个与分析试样相似的样品，经燃烧分析以稳定仪器。 B.3 仪器的校准 选择碳含量接近校准系列中最高碳量的金属硅标准物质，也可选用碳钢标准样品校准，按分析方 法测定其含碳量至少三次，测量结果应在容许误差内，确认系统的稳定性。 剑客先生0001200001可研报告20191005232627953871yRIGtATp14Kec/0GXTr5C/F/LKBzyQDGzcYCkUU8H/WUZHqvYBqmOizVyWkVDO
20、ZW讇耀鵟趗朆啩0缵7(藒燙痧蓴%搀攀搀N南开大学学位论文使用授权书 .doc南开大学学位论文使用授权书.doc2019-10638deeffa-a2b1-43d2-98bd-29c8e0d9d51f5aSJl1UTYE6L2yJ4Z6wzDrSugt6T4C3dPXR+V3MS4+i0ObMKjXGPdQ=28f81df622ca746ee91a4ee180c52f1b瓦拉西瓦0001700001毕业论文20191006080714074337489bcc5b12348bf28e3be3837d54b3ee0缵7(藒燙痧蓴%搀攀搀O南开大学学位论文使用授权书 .doc南开大学学位论文使用授权
21、书.doc201(剌匀搒讀缁濧頀h惏椀朂洃涃洃甃褃鄃鄃鄃魸搀漀挀瀀椀挀最椀昀魸搀漀挀搀漀挀尀尀愀昀搀攀戀挀攀愀昀搀挀堀氀儀漀挀洀堀稀戀伀吀渀爀漀瘀昀儀焀椀搀漀焀嘀眀礀一猀甀匀焀栀儀魸鬀扛挀攀昀戀攀搀搀攀昀愀攀攀愀昀s栀昀1儀瀀瘀匀娀一礀礀椀爀最瘀嘀伀焀砀欀刀瀀眀爀渀礀椀猀愀甀礀爀嘀氀漀漀匀渀戀礀儀堀HR阀胔-怀欲怀棙i縀$行业标准氟碳铈矿-独居石混合精矿（征求意见稿）.docpic1.gif行业标准氟碳铈矿-独居石混合精矿征求意见稿.doc.doc2019-1056c7b4016-29ef-4c37-aa59-36098ce587b5mhPhmY81UqZmnsk/dtu7KHSy8iGsEi
22、90cetdMeVIE3j0lW0L/6x5eg=氟碳铈矿-独居石混合精矿,行业标准,氟碳铈矿,独居石,混合,精矿,征求意见d322e72773b4b3883122b8817a32721dHICS 77.120.99 H 65 中中华华人人民民共共和和国国 稀稀土土行行业业标标准准 XB/T 102201X 代替XB/T 102-2007 氟碳铈矿氟碳铈矿- -独居石混合精矿独居石混合精矿 Mixed concentrate of bastnasite and monazite (征求意见稿) -发布-实施 中华人民共和国 工业和信息化部 发布 XB XB/T 102201X 前 言 本标准是
23、按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草的。 本标准代替 XB/T 102-2007氟碳铈矿-独居石混合精矿 。 本标准与 XB/T 102-2007 相比，主要技术变化如下： 修改了范围部分的文字说明（见第 1 章） ； 修改了规范性引用文件（见第2章）； 增加了字符牌号（见3.1）； 删除了000030、000035、000040、000045、000055、000060（见2007版）； 增加了REM-0353、REM-0356、REM-0359、REM-0362、REM-0365牌号及其相应考核指 标（见3.1）； 修改了水分的考核指标及其描述（见3.3）； 修改了散装产品仲裁
24、取样方法（见 5.4） ； 修改了标志、包装、运输、贮存的要求（见第 6 章） 。 本标准由全国稀土标准化技术委员会（SAC/TC 229）提出并归口。 本标准主要起草单位：中国北方稀土（集团）高科技股份有限公司、XXX。 本标准主要起草人： 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： XB/T 102-1995、XB/T 102-2007 XB/T 102201X 氟碳铈矿-独居石混合精矿 1 范围 本标准规定了氟碳铈矿-独居石混合精矿的要求、试验方法、检验规则与包装、标志、运输、 贮存及质量证明书。 本标准适用于经选矿所得的氟碳铈矿-独居石混合精矿，供提取稀土化合物用。 2 规范性引用文件 下
25、列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本 文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定 GB/T 17803 稀土产品牌号表示方法 GB T 18114（所有部分） 稀土精矿化学分析方法 GB XXXXX 稀土产品的包装、标志、运输和贮存 3 要求 3.1 产品分类 产品按照化学成分分为 6 个牌号，产品牌号表示方法应符合 GB/T 17803 的规定。 3.2 化学成分 产品的化学成分应符合表1规定。需方如有特殊要求，供需双方可另行协商。 表1 化学成分（质量分数）/
26、% 杂质含量，不大于字符牌号数字牌号 REO 不小于 FCaO水分含量 REM-0365659712.5 / 1.5 REM-03626210912.5 / 1.5 REM-035959101312.5 / 1.5 REM-035656101312.5 / 1.5 REM-035353121512.5 / 1.5 REM-035000005050121512.5 / 1.5 注 1：水分含量 12.5%指浮选生产稀土精矿水分含量，水分含量 1.5%指稀土精矿经干燥工序后的水分含量。 3.3 外观 3.3.1 产品为粉状物。颜色随稀土品位升高由深褐色到黄绿色。 3.3.2 产品应洁净，无目视可见
27、的夹杂物。 4 试验方法 4.1 化学成分 4.1.1 稀土总量、非稀土杂质含量的分析方法按 GB/T 18114 的规定进行。 4.2 数值修约 数值修约按 GB/T 8170 规定的方法进行。 4.3 外观质量 用目视检查。 5 检验规则 5.1 检查与验收 5.1.1 产品由供方技术监督部门进行检验，保证产品质量符合本标准规定，并填写质量证明书。 5.1.2 需方应对收到的产品进行检验，如检验结果与本标准规定不符，应在收到产品之日起 2 个 月内向供方提出，由供需双方协商解决。如需仲裁，可委托双方认可的单位进行，并在需方共同取 样。 5.2 组批 产品应成批提交检验，每批应由同一牌号的产品组成。 5.3 检验项目 每批产品应进行化学成分和外观质量检验。 5.4 取样和制样 5.4.1 袋装产品仲裁取样 袋装产品按每20件（袋）一个点，采用插管取样。每件（袋）取样量不小于100g，将试样混匀 后，用四分法迅速
