1、第7章 智能仪器的设计与调试第7章 智能仪器的设计与调试7.1 智能仪器智能仪器设计方法设计方法7.2 智能仪器智能仪器的硬件设计的硬件设计7.3 智能仪器智能仪器的软件设计的软件设计7.4 智能仪器智能仪器的调试方法的调试方法7.5 智能仪器智能仪器常见故障诊断与处理常见故障诊断与处理7.6 实实训项目七训项目七数字示波器的数字示波器的设计设计第7章 智能仪器的设计与调试 7.1 智能仪器设计方法智能仪器设计方法1.功能及技术指标应满足要求功能及技术指标应满足要求在智能仪器设计中，首先应按照要求的仪器功能和技术指标进行总体设计。常见的仪器功能有：输出功能（如显示、打印）、人机对话功能（如键盘
2、的操作管理、屏幕的菜单选择）、通信功能、出错和超限报警功能等。常见的技术指标有：精度（如灵敏度、线性度、基本误差以及环境参数对测量影响等）、被测参数的测量范围、工作环境（如温度、湿度、腐蚀性等）以及稳定性（如连续工作时间）等。第7章 智能仪器的设计与调试2.具有高可靠性具有高可靠性可靠性就是仪器在规定条件下和规定时间内，完成规定功能的能力。一般用年均无故障时间、故障率、失效率或平均寿命等指标来表示。实践证明，提高仪器可靠性的关键在于提高产品的可靠性设计水平。因此在设计阶段必须充分考虑可靠性问题，在设计方案、元器件选择、工艺过程以及维护性等方面予以全面的考虑，采用成熟的设计技术以及可靠性分析、试
3、验技术，提高产品的固有可靠性。第7章 智能仪器的设计与调试3.便于操作和维护便于操作和维护在仪器设计过程中，应考虑操作方便，尽量降低对操作人员的专业知识要求，以便产品的推广应用。仪器的控制开关或按键不宜太多、太复杂，操作程序应简单明了，输入输出用十进制数表示，从而使操作者无需专门的训练，便能够掌握仪器的使用方法。智能仪器还应有很好的可维护性，为此仪器结构要规范化、模块化，并配有现场故障诊断程序，一旦发生故障，就能保证有效地对故障定位，以便更换相应的模块，使仪器尽快地恢复正常运行。第7章 智能仪器的设计与调试4.仪器工艺及造型设计要求仪器工艺及造型设计要求仪器工艺流程是影响可靠性的重要因素。要依
4、据仪器工作环境条件是否需要防水、防尘、防爆，是否需要抗冲击、抗振动、抗腐蚀等要求设计工艺流程。仪器的造型设计也极为重要，总体结构的安排、部件间的连接关系以及面板的美化等都必须认真考虑，一般应由结构专业人员设计。第7章 智能仪器的设计与调试7.1.1智能仪器的设计原则智能仪器的设计原则1.从整体到局部（自顶向下）的设计原则从整体到局部（自顶向下）的设计原则在硬件或软件设计时，应遵循从整体到局部也即自顶向下的设计原则。它把复杂的、难处理的问题分为若干个较简单的、容易处理的问题，再逐个地加以解决。开始设计时，设计人员根据仪器功能和设计要求提出仪器设计的总任务，然后将总任务分解成若干个相互独立的子任务
5、。这些子任务再向下分，直到每个低级的子任务足够简单，可以直接而且容易实现为止。这些低级子任务可用模块方法来实现，可以采用某些通用化的模块（模件），也可作为单独的实体进行设计和调试，并对它们进行各种试验和改进，直至能够以最低的难度和最高的可靠性组成高一级的模块。子任务完成后，将所有模块有机地集合起来，必要时做些调整，即可完成整体设计任务。第7章 智能仪器的设计与调试2.软件、硬件协调原则软件、硬件协调原则智能仪器的某些功能（如逻辑运算、定时、滤波）既可通过硬件实现，也可通过软件完成。硬件和软件各有特点，使用硬件可以提高仪器的工作速度，减轻软件编程任务。但仪器成本增加，结构较复杂，出现故障的机会增
6、多。以往人们在智能仪器设计中，过多地着眼于降低硬件成本，尽量“以软代硬”。随着LSI（LargeScaleIntegration）芯片功能增强、价格下降，这种情况正在发生着变化。哪些设计子任务应该“以硬代软”,哪些应该“以软代硬”，要根据系统的规模、功能、指标和成本等因素综合考虑。一般的原则是，如果仪器的生产批量较大，应该尽可能压缩硬件投入，用“以软代硬”的办法降低生产成本。此外，凡简单的硬件电路能解决的问题不必用复杂的软件取代；反之，简单的软件能完成的任务也不必去设计复杂的硬件。在具体的设计过程中，为了取得满意的结果，硬件与软件的划分需要多次协调和仔细权衡。第7章 智能仪器的设计与调试3.开
7、放式与组合化设计原则开放式与组合化设计原则在科学技术飞速发展的今天，设计智能仪器系统面临三个突出的问题，即产品更新换代快、市场竞争日趋激烈、如何满足用户不同层次和不断变化的要求。针对上述问题，国外近年来在电子工业和计算机工业中推行一种“开放式系统”的设计思想。向未来的VLSI开放，在技术上兼顾今天和明天，既从当前实际可能出发，又留下容纳未来新技术机会的余地；向系统的不同配套档次及用户不断变化的特殊要求开放。设计“开放式系统”的具体方法是，基于国际上流行的工业标准微机总线结构，针对不同的用户系统要求，选用相应的功能模块组成用户应用系统。系统设计者将主要精力放在分析设计目标、确定总体结构、选择系统
8、配件、解决专用软件的开发设计等方面，而不是放在功能模块设计上。第7章 智能仪器的设计与调试开放式体系结构和总线技术的发展，导致了工业测控系统采用组合化设计方法的流行，即针对不同的应用系统要求，选用现成的硬件模块和软件进行组合。组合化设计的基础是软件、硬件功能的模块化。采用组合化设计有以下优点：（1）开发设计周期短。组合化设计采用成熟的软件、硬件产品组合成系统，不需要进行功能模块的设计。因此，相对于传统设计方法，设计简便、设计周期短。（2）结构灵活，便于扩充和更新。使用中，可根据需要更换一些模块或进行局部结构改装来满足不断变化的要求。第7章 智能仪器的设计与调试（3）维修方便快捷。功能模块大量使
9、用LSI和VLSI芯片，在出现故障时，只需要更换IC芯片或功能模块，大大缩短了维修时间。（4）成本低。仪器系统使用的功能模块，一般为批量生产，成本低而且性能稳定，因此组合成的系统成本也较低。第7章 智能仪器的设计与调试7.1.2智能仪器的研制步骤智能仪器的研制步骤设计一台智能仪器的一般过程如图71所示，主要分为三个阶段。第一阶段，确定设计任务，并拟定设计方案；第二阶段，硬件和软件设计；第三阶段，系统调试及性能测试。下面简要介绍各阶段的工作内容和设计任务。第7章 智能仪器的设计与调试图71智能仪器设计的一般过程第7章 智能仪器的设计与调试1.确定设计任务、拟定设计方案确定设计任务、拟定设计方案根
10、据智能仪器最终要实现的目标，编写设计任务书。在设计任务书中，明确仪器应该实现的功能、需要完成的测量任务；被测量的类型、变化范围，输入信号的通道数；测量速度、精度、分辨率、误差；测量结果的输出方式及显示方式；输出接口的设置，如通信接口、打印机接口等。另外，要考虑仪器的内部结构、外形尺寸、面板布置、研制成本、仪器的可靠性、可维护性及性能价格比等。第7章 智能仪器的设计与调试设计任务确定之后，就可以拟定设计方案。设计方案就是对设计任务的具体化。首先根据仪器应该完成的功能、技术指标等，提出几种可能的方案，每个方案，应包括仪器的工作原理、采用的技术、重要元器件的性能等；然后对各方案进行可行性论证，包括对
11、某些重要部分的理论分析、计算及必要的模拟实验；最后再兼顾各方面因素选择其中之一作为仪器的设计方案。在确定仪器总体设计方案时，微处理器的选择非常关键。微处理器是整个仪器的核心部分，应该从功能和性价比等方面认真考虑。第7章 智能仪器的设计与调试当仪器总体方案和选用的微处理器种类确定之后，采用“自顶向下”的设计原则，把仪器划分成若干个便于实现的功能模块。仪器中有些功能模块既可以用硬件实现，也可以用软件实现，设计者应该根据仪器的性能价格比、研制周期等因素对硬件和软件的选择做出合理安排。在对仪器硬件和软件协调之后，作出仪器总体硬件功能框图和软件功能框图。第7章 智能仪器的设计与调试2.硬件和软件的设计硬
12、件和软件的设计在设计过程中，硬件和软件应同步进行。在设计硬件、研制功能模块的同时，即着手进行应用程序的编制。硬件、软件的设计工作要相互配合，充分发挥微机的特长，尽可能地缩短研制周期、提高设计质量。第7章 智能仪器的设计与调试硬件设计的主要工作是根据仪器总体硬件框图设计各单元电路（如输入输出通道、信号调理电路、主机电路、人机接口、通信接口等），并研制相应的功能模块。在功能模块研制完成之后进行组合与装配，即按照硬件框图将各功能模块组合在一起，构成仪器的硬件系统。在硬件设计中还应考虑其他方面的问题。应考虑到将来会出现的修改和扩展，硬件资源需留有足够的余地；为了及时修复仪器出现的故障，需附加有关的监测
13、报警电路；在硬件设计时还需考虑硬件抗干扰措施和是否需要设置RAM的掉电保护措施等；绘制印制电路板时，需注意与机箱、面板的配合，接插件安排等问题。第7章 智能仪器的设计与调试3.系统调试和性能测试系统调试和性能测试在完成仪器系统硬件及软件设计之后，需要进行硬件及软件的调试，硬件和软件调试通过后还要进行硬件和软件的联调。在仪器硬件调试中，一部分硬件电路的调试可以采用某种信号作为激励，通过检查电路能否得到预期的响应来检测电路是否正常。但大多数硬件电路的调试需要微处理器的配合，通常采用的方法是编制一些小的调试程序，分别对各硬件单元电路的功能进行检查。而整机硬件功能需要通过总体软件进行调试。第7章 智能
14、仪器的设计与调试软件调试的方法是先对每一个功能模块进行调试，调试通过后，将各模块连接起来进行总调。由于智能仪器的软件不同于一般的计算机管理软件，它和仪器的硬件是一个密切相关的整体，因此只有在相应的硬件系统中调试，才能最后证明其正确性。硬件及软件分别调试合格后，就要对硬件和软件进行联合调试，即系统调试。系统调试通常利用微机开发系统来实现。系统调试中可能会遇到各种问题，若属于硬件故障，应修改硬件电路的设计；若属于软件问题，应修改相应程序；若属于系统问题，则应对硬件、软件同时给以修改。如此往返，直至合格。第7章 智能仪器的设计与调试在系统调试中，还必须对设计所要求的全部功能及技术指标进行测试和评价，
15、以确定仪器是否达到预定的设计目标，若发现某一功能或指标达不到要求，则应修改硬件或软件，并进行重新调试直至满意为止。设计、研制一台智能仪器大致需要经过上述几个阶段，实际设计时，阶段不一定要划分得非常清楚，视设计内容的特点，有些阶段的工作可以合并进行。第7章 智能仪器的设计与调试7.2智能仪器的硬件设计智能仪器的硬件设计7.2.1硬件体系结构的设计硬件体系结构的设计智能仪器系统硬件体系结构的选择，主要是根据应用系统的规模大小、控制功能性质及其复杂程度、实时响应速度及检测控制精度等专项指标和通用指标决定。首先根据系统规模及可靠性要求考虑，对于普通要求规模较小的应用系统，可采用单机系统；对于高可靠性系
16、统，即使系统规模不大，但为了可靠，也常采用双机系统。第7章 智能仪器的设计与调试1.单机系统结构设计单机系统结构设计用单片机进行适当的扩充接口，即可满足一般智能仪器的需要。单片机技术的发展，在许多方面都展示出它的优越性。其优越性主要表现在：芯片集成度高、可靠性高、芯片种类多，体积、质量小。单片机应用系统中包括单片机系统、信号测量功能模块、信号控制功能模块、人机对话功能模块和远程通信功能模块。其中，单片机系统包括单片机基本系统和扩展部分。单片机系统的扩展包括存储器扩展和接口扩展。第7章 智能仪器的设计与调试单片机应用系统中的信号测量功能模块，是测量对象与单片机相互联系不可缺少的部分，不同传感器输
17、出的信号，经过放大、整形、转换（电流电压转换、模数转换、频率电压转换）后输入单片机，如果要进行巡回检测，还需在信号检测部分装多路选择开关、多路放大器。若使用多个放大器，则各放大器应放在多路选择开关之前；若使用单个放大器，放大器应放在多路选择开关之后，详见4.2.3节电路图49和图410所示。控制信号功能模块是单片机与控制对象相互联系的重要部分。信号控制功能模块由单片机输出的数字量、开关量或频率量转换（模数转换、频率电压转换）后，再由各种驱动回路来驱动相应执行器实现控制功能。人机对话功能模块包括键盘、显示器（LED、LCD或CRT）、打印机及报警系统等部分。第7章 智能仪器的设计与调试为实现它与
18、单片机的接口，采用专用接口芯片或通用串并行接口芯片。远程通信功能模块，担负着单片机间信息交换的功能。在具有多个单片机的应用系统中，各单片机有时相距很远，采用并行通信，投资成本会急剧增加，技术上也不能实现。采用串行通信方式时，可以用单片机的串行接口，也可以使用可编程串行接口芯片。距离较远时，还要增加调制解调器等。另外，传感器、各功能模块和单片机系统要统HJ2mm一考虑，软、硬件要有几套方案进行比较，按经济、技术的要求从中选择最佳方案。各功能模块、单片机系统硬件电路要尽可能选用标准化器件，模块化结构的典型电路要留有余地，以备扩展之用，尽可能采用集成电路，减少接插件相互间连线，降低成本，提高可靠性。
19、此外，要切断来自电源、传感器、测量信号功能模块、控制信号功能模块部分的干扰。硬件、软件设计要合理、可靠、抗干扰、模块化等。第7章 智能仪器的设计与调试2.多微机系统结构设计多微机系统结构设计对于一些大型复杂的测控对象，用一台微机无法实现复杂的任务及对众多的对象进行测控时，可组成多微机仪器系统或网络化仪器系统。多微机系统具有速度快、性能/价格比高、系统可靠，易于扩充和改进等优点。多微机系统从它们相互之间的联系所达到的目的和要求，可以分为两种类型，即计算机局域网和分布式（或集散式）微机测控系统。二者因地域分散的不同，应用目的不同，导致在结构设计上的差异。第7章 智能仪器的设计与调试7.2.2器件的
20、选择器件的选择1.单片机芯片的选择单片机芯片的选择微型计算机是智能仪器的核心器件，它对智能仪器的性能指标影响很大。单片机品种多、特点突出、功能强、体积小、价格便宜，是专供嵌入式应用的微型计算机。目前，我国的单片机应用领域中8位机仍为主流，因此在选取智能仪器中的专用单片机芯片时MCS51系列仍是优先考虑的机种。需要指出的是，随着微控制器（MicroControllerUnit，MCU）及片上系统（SystemonChip，SoC）的推出，8位单片机的功能更强大，可供选择的范围也更大。第7章 智能仪器的设计与调试2.可编程逻辑器件可编程逻辑器件（ProgrammableLogicDevice，PL
21、D）包括可编程阵列逻辑（ProgrammableArrayLogicDevice，PAL）、通用阵列逻辑（GenericArrayLogicDevice，GAL）、现场可编程门阵列（FieldProgrammingGateArray，FPGA）以及复杂可编程逻辑器件（ComplicatedProgrammableLogicDevice，CPLD）等。可编程逻辑器件可以实现原来由众多中、小规模集成电路芯片构成的电路系统的功能，且可以重新定义逻辑功能、反复修改电路连接关系。具有集成度高、体积小、保密性强、便于系统调试、电路扩充和修改方便等优点，成为硬件系统（尤其是数字逻辑系统）发展的重要方向。第7
22、章 智能仪器的设计与调试FPGA器件的集成度高，单片等效逻辑门数从1200门到几万门，甚至达到十几万门，并已形成系列化产品。在一片FPGA芯片内，可以组成复杂的逻辑电路系统，代替几十片、上百片现有的中、小规模集成电路（如74LS系列、CD4000系列）芯片。此外，FPGA应用系统的整个设计过程均可采用最先进的电子设计自动化（ElectronicDesignAutomation，EDA）技术，一次性成功率很高。设计后可以在开发系统上仿真，反复进行修改，反复使用。第7章 智能仪器的设计与调试FPGA内部结构类似门阵列，而逻辑功能的实现又与微处理器相仿，由程序驱动。FPGA器件内部大多不是简单的逻辑
23、门，而是可构造单元，即可构造的逻辑模块。这些逻辑功能模块由芯片内部分布式构造存储器阵列单元中所存储的构造程序控制和驱动。FPGA内部的布线和布局可在现场完成，表现出很大的自由度和灵活性。设计开发FPGA需要专门的开发系统。FPGA开发系统通常包括“逻辑设计”和“物理实现”两大模块。FPGA的开发过程在电路设计和版图设计两个阶段交替进行，可能要反复几次才能完成。一般设计过程如下。第7章 智能仪器的设计与调试（1）设计输入。此阶段的任务是将所设计的电路功能和外部连接关系输入到开发系统中。可以输入利用电子线路设计CAD软件（如AltiumDesigner）绘制的电路原理图，也可以输入用布尔方程描述的
24、电路功能表达式，或用状态机的语言描述。开发系统将这些输入形式转化成相应的网表。目前，VHDL（VeryHighSpeedIntegratedCircuitHardwareDescriptionLanguage）在电子工程领域已成为事实上的通用硬件描述语言，主要用于描述数字系统的结构、行为、功能和接口，不仅含有许多具有硬件特征的语句，而且与计算机高级语言的描述风格与句法十分类似。第7章 智能仪器的设计与调试（2）设计实现。此阶段将已输入的电路设计映射到FPGA中进行布局和布线，产生构造逻辑单元阵列所需的构造数据位码流。（3）设计验证。此阶段对所设计（已完成布局布线）的FPGA应用系统进行电路模拟
25、验证。电路模拟包括功能模拟和时间模拟，功能模拟用于检查逻辑设计的正确性，不提供时间信息；时间模拟则专门用来检验所设计电路的工作速度。如果验证结果不满足设计要求，需要进一步修改电路设计，修改版图的布局布线。除了上述设计验证之外，一般还需要在实际电路应用中进行实时验证。第7章 智能仪器的设计与调试3.数字信号处理器（数字信号处理器（DSP）在数字通信、语音或图像处理以及智能仪器等领域的信号处理中，常需要进行数字滤波、FFT、相关、卷积等复杂运算。如果用微型计算机软件完成这类运算，将占用微处理器大量时间，不能满足实时处理的要求。由于此类运算大都是由迭代式的乘法和加法运算组合而成，人们设想用专门的数字
26、电路来执行此类运算任务，逐渐开发了数字信号处理器（DigitalSignalProcessor，DSP）。智能仪器的实时信号处理能力对于许多应用领域都是极为重要的，DSP芯片成为智能仪器的必然选择。第7章 智能仪器的设计与调试选择DSP芯片首先考虑的因素是DSP芯片的运算速度。运算量小可选用处理能力一般的DSP芯片，从而可以降低系统成本，运算量大则必须选用处理能力强的DSP芯片，如果单个DSP芯片的处理能力达不到应用系统的要求，还可采用多个DSP芯片并行处理。对DSP应用系统的运算量需根据所采用的处理方式估算。其次考虑DSP芯片的硬件资源。DSP芯片的硬件资源包括RAM、ROM的数量，外部可扩
27、展的程序和数据存储空间、总线接口、I/O接口等。不同的DSP芯片所提供的硬件资源是不尽相同的。第7章 智能仪器的设计与调试第三，根据需要选择DSP芯片的运算精度。一般定点DSP芯片的字长为16位（如TMS320系列），也有采用24位字长的定点DSP芯片（如Motorola公司的MC56001等）。浮点芯片的字长一般为32位，累加器为40位。第四，DSP芯片的开发工具的选择。没有开发工具的支持，想要开发一个复杂的DSP应用系统几乎是不可能的。在选择DSP芯片时，必须注意其开发工具的支持程度（包括软件和硬件两个方面）。最后，再考虑DSP芯片的功耗。在某些DSP应用场合，功耗是很敏感的问题，便携式D
28、SP设备、手持设备、野外应用的DSP设备等都对功耗有特殊的要求。目前3.3V供电的低功耗高速DSP芯片已大量使用。第7章 智能仪器的设计与调试除以上重要因素之外，选择DSP芯片还应考虑封装形式、质量标准、供货情况、生命周期等。价格也是选择DSP芯片时必须认真考虑的。一般而言，定点DSP芯片的价格较便宜、功耗较低,但运算精度稍差；浮点DSP芯片的优点是运算精度高，且C语言编程调试方便，但价格稍贵，功耗也较大。第7章 智能仪器的设计与调试DSP仪器系统的设计步骤如下：（1）首先根据总体目标，确定DSP应用系统的性能指标、信号处理的要求。通常用数据流程图、数字运算序列、正式的符号或自然语言等方式描述
29、。（2）采用高级语言进行算法模拟。一般来说，为了实现系统的最终目标，需要对输入信号进行适当的处理。要得到最佳的系统性能，就必须确定最佳的处理方法，即数字信号处理的算法。算法模拟所用的输入数据是实际信号经采集而获得的，通常以计算机文件的形式存储为数据文件。有些算法模拟时所用的输入数据并不一定要实际采集的信号数据，只要能够验证算法的可行性，也可采用假设的数据进行算法模拟。第7章 智能仪器的设计与调试（3）实时DSP应用系统设计。实时DSP系统的设计包括硬件设计和软件设计两个方面。硬件设计首先要根据系统运算量的大小、对运算精度的要求、系统成本限制以及体积、功耗等要求选择合适的DSP芯片，然后设计DS
30、P芯片的外围电路。软件设计则主要根据系统要求和所选的DSP芯片编写相应的DSP程序。若系统运算量不大且有高级语言编译器支持，可以采用C语言编程。由于现有高级语言编译器的效率还比不上手工编写汇编语言的效率，因此在实际应用系统中常采用高级语言和汇编语言混合的编程方法，即在算法运算量大的地方，用汇编语言编程，而运算量不大的地方则采用高级语言编程。这样既缩短软件开发周期，提高程序可读性和可移植性，又能满足系统实时运算的要求。第7章 智能仪器的设计与调试（4）DSP应用系统的硬件和软件设计完成后，必须进行硬件和软件的调试。软件调试一般借助于DSP开发工具，如软件模拟器、DSP开发系统或仿真器等。调试DS
31、P算法时，一般采用实时结果与算法模拟结果相比较的方法。如果实时程序和模拟程序的输入相同，则两者的输出应该一致。应用系统的其他软件可以根据实际情况进行调试。硬件一般采用硬件仿真器进行调试，如果没有相应的硬件仿真器，且硬件系统不是十分复杂，也可以借助于一般的工具进行调试。系统的软件和硬件分别调试完成后，即可将软件脱离开发系统而直接在应用系统上运行。当然，DSP系统的开发（尤其是软件开发）是一个不断修改、不断完善的过程。虽然通过算法模拟基本上可以了解实时系统的性能，但实际中模拟环境不可能与实时系统的运行环境完全一致，将模拟算法移植到实时系统时必须考虑算法是否能够实时运行的问题。第7章 智能仪器的设计
32、与调试4.专用集成电路芯片专用集成电路芯片ASIC（ApplicationSpecificIC）长期以来IC芯片都是通用的，如单片机芯片、各种存储器、各种逻辑元件、各种A/D转换器和D/A转换器等。用户只能根据手头拥有的芯片的功能去设计自己的产品。这是由生产成本所决定的。因为只有大量生产的芯片,其成本才可以降低，才会有好的经济效益。而由用户定制的ASIC，则由于成本太高而很难得到推广。近年来，由于LSI生产工艺的成熟、CAD技术的进步，加之许多业已成熟的IC芯片如单片机芯片、存储器、D/A转换器等都可能用来充当ASIC的基础，使ASIC的经济效益日益提高，因此，ASIC在VLSI市场上的竞争已
33、日趋激烈。有人预计今后将是ASIC的时代，IC市场将在很大程度上属于那些能够廉价而且迅速为用户提供定制ASIC的公司。这种局面一旦形成，将使电子产品（包括智能仪器）的结构更加紧凑、性能更加良好、保密性更强。第7章 智能仪器的设计与调试5.A/D转换器转换器A/D转换器是智能仪器的重要部件。A/D转换器可根据工作方式、转换速率、转换精度等进行分类。按工作原理不同，A/D转换器有积分型和比较型两大类。积分型A/D转换器的精度高、电路简单，对元器件精度要求较低，容易制作成高位数A/D转换器，成本低、售价低廉、噪声小、温漂也小，适用于一般工作控制用仪器仪表，便于实现十进制数字输出。但是转换速率低，其转
34、换时间约在数百微秒到数百毫秒之间。可以采用多斜积分技术和脉冲调宽技术进行改进，提高转换速率，详细内容见本书5.2.2节所述。第7章 智能仪器的设计与调试第二大类是比较型A/D转换器。比较型A/D转换器元件的线路结构庞杂，难以达到高位要求，常常需要多片级联以满足需要。在使用中，应重视系统稳定性、可靠性问题，尤其是在高采样率和高转换精度的场合，必须与系统或相关单元的动态特性同步考虑。反馈比较型A/D转换器内部含有一个由D/A转换器构成的反馈回路，在实际应用时，为了保证转换精度，在转换器的输入端应连接S/H电路，转换速率较快，多属于中速转换器。无反馈比较型A/D转换器转换速率最高，高速A/D转换器几
35、乎都是无反馈比较型的，价格较高。第7章 智能仪器的设计与调试在选用A/D转换器时，还要注意下述两个方面的问题。（1）含有A/D转换器的单片机。现在许多高性能单片机内拥有ADC功能部件，不用外接ADC专用器件也能独立完成模/数转换操作。例如，SiliconLab公司的CygnalC8051F系列单片机，内置812位多通道ADC，12路12位DAC。把模/数转换功能集成到单片机中，给仪器设计带来了极大的方便，进一步促进了智能仪器小型化、高性能的发展。第7章 智能仪器的设计与调试（2）A/D转换器内含有模拟开关或采样/保持器。为了使用方便，许多厂家都把模拟开关或采样/保持器集成在A/D转换器里面。A
36、/D转换器中含有采样/保持器，可以保证A/D转换期间采样电压值不变，从而减少孔径误差，大大提高A/D转换器的精确度。例如，AD1674的管脚和功能与AD574/674完全兼容，其内部增加了采样/保持器，采样频率为100kHz，精度达到0.05%。此外，AD7821、AD9040、AD9034等大量A/D转换器都内含采样/保持器。因此在选择了内有采样/保持器的A/D转换器时，外部电路就可以不必另设采样/保持器。第7章 智能仪器的设计与调试7.2.3仪表中其他功能组件的设计仪表中其他功能组件的设计1.传感器接口电路传感器接口电路具有以上特征的测量电路被称为传感器接口电路。传感器接口电路一般应达到如
37、下要求：（1）可提高传感器和接口电路整体工作效率。（2）具有一定的信号处理能力（如半导体热敏电阻接口电路具有引线补偿功能）。（3）能够提供传感器所需要的驱动信号源。若按输出信号划分，传感器可分为电参数传感器和电量传感器。电量传感器输出电压、电流、电荷等电量，压电传感器、光电传感器等即属此类。电阻、电容、电感、互感等传感器需外加驱动信号源才能工作，属于电参数传感器。第7章 智能仪器的设计与调试（4）有较完善的抗干扰和抗高压冲击保护机制。这种机制包括输入端的保护、前后级电路的隔离、模拟和数字滤波等。现有的许多传感器接口电路将某项信号处理功能，甚至几项功能全部集成到一个芯片中（有些甚至将微处理器等集
38、成到一个芯片），或者针对某种传感器的特点和对信号处理的要求设计专门的集成电路。传感器接口集成电路的出现，将简化智能仪器的设计与制造，提高测量精度和智能仪器的整体性能。第7章 智能仪器的设计与调试2.信号处理电路信号处理电路信号处理电路的任务是对电信号进行各种加工处理，如信号的放大和滤波、信号之间的运算、信号特征的恢复、噪声和干扰抑制等。信号处理电路之中的一大类是信号比较电路以及由比较电路所构成的功能更多、更复杂的电路。运算放大器是任何测量仪器都不可缺少的基本电路，需要根据仪器功能和技术指标要求选用不同的运算放大器。目前有适合于各种用途和性能要求的集成运算放大器，如非线性放大器、程控放大器、差动
39、放大器、微功耗放大器等。最适合某种场合应用的放大器大都采用有某种特色的运算放大器或专门设计的放大器芯片。选择适用的运算放大器需具备相关的电路知识，熟悉运算放大器的直流和交流主要参数。第7章 智能仪器的设计与调试运算放大器的直流参数主要有10项，分别是：输入失调电压、输入失调电压的温度系数、输入偏置电流、输入失调电流、差模开环直流电压增益、共模抑制比、电源电压抑制比、输出峰峰值、最大共模输出电压、最大差模输入电压。运算放大器的交流参数主要有9项，分别是：开环带宽、单位增益带宽、转换速率（也称电压摆率）、全功率带宽、建立时间、等效输入噪声电压、差模输入阻抗、共模输入阻抗、输出阻抗。第7章 智能仪器
40、的设计与调试通常所说的“最高速度”和“最高精度”，是运算放大器的两个极端特性。高速运算放大器以转换速率高、建立时间短和频带宽为特征。快速建立时间对缓冲器、DAC和多路转换器中的快速变化或模拟信号切换等应用特别重要；宽小信号频带在前置放大和处理宽频带交流小信号应用中非常重要；高转换速率与快速建立时间相关，对处理大幅度交流信号非常有意义。一般来说，最精密的单片运算放大器应具有如下特性：（1）极低的失调电压（不作调整）、极低的温度漂移、极高的开环增益（作为积分器和高增益放大器具有最高精度）和极高的共模抑制比。第7章 智能仪器的设计与调试（2）低偏置电流和高输入阻抗。这类放大器使用具有高输入阻抗和低漏
41、电电流的结型场效应晶体管（JFET），适用于测量小电流或含高阻抗的信号，其应用范围从通用的高阻抗电路到积分器、电流电压转换器、对数函数发生器以及用于高阻抗传感器的测量电路（如光电倍增管、火焰检测器、PH计和辐射检测器等）。（3）高精度。由于低失调和漂移电压、低电压噪声、高开环增益和高共模抑制比（CMR）而获得很高的精度。此类放大器用于高精度仪器、低电平传感器电路、精密电压比较和阻抗变换等。第7章 智能仪器的设计与调试3.键盘和显示器的设计键盘和显示器的设计键盘是智能仪器的重要组成部分。根据仪表的功能要求，可采用矩阵式非编码键盘，也可采用专用芯片的编码键盘。键盘都是由一些按键开关组成，键盘的规模
42、取决于仪表的功能，功能越多规模越大。第7章 智能仪器的设计与调试显示器是智能仪器的主要输出设备。常用的显示器有两种形式，即发光二极管显示器LED和液晶显示器LCD。LCD器件的功耗低，常用于电池供电的便携式智能仪器中，但它的亮度不如LED。这两种显示器都有7段字符型显示器和点阵式显示器。7段字符显示器的控制电路简单、价格便宜，但只能显示十进制数字和少量的英文字母和符号，主要用于简单的测量结果和运算结果的输出。点阵式显示器能显示全部数字、英文字母、测量用的各种符号，甚至还可显示汉字。它一般用在较复杂的智能仪器中，除了用来显示测量结果、运算结果之外，还可实现人机对话，显示用户的手工编程以及操作过程
43、，比前者有更大的优越性。但其控制电路较复杂，价格较贵。第7章 智能仪器的设计与调试7.2.4电源及功耗设计电源及功耗设计1.精密电源精密电源许多智能仪器需要为传感器提供精密的直流和交流电压源或电流源，在不少测量中还需要诸如阶梯波或锯齿波等特殊波形的信号源。信号源精度和稳定性通常是由精密基准电压源保证的。精密基准电压源最重要的技术指标是电压温度系数，它表示温度变化引起的输出电压漂移量（亦称温漂）。第7章 智能仪器的设计与调试表表7-1LM399的主要电参数的主要电参数第7章 智能仪器的设计与调试图72精密基准电压源LM399第7章 智能仪器的设计与调试图73非标准值基准电压源第7章 智能仪器的设
44、计与调试2.低功耗设计低功耗设计实际上，节能是全球化的热潮，如计算机里的许多芯片原来用5V供电，现在用3.3V、1.8V，并提出了绿色电器的概念。很多厂商注重仪器的低功耗问题，有些工业仪表已改用电池供电，这种仪表可5年甚至10年不更换电池，不用维护，免除了工厂停产检修仪表的麻烦。因此，智能仪表的低功耗技术是设计中不可忽视的重要内容。要降低整个系统的功耗，必须从系统中的各个环节抓起。硬件电路低功耗设计要点如下：（1）选用节能的微处理器。同样的工作状态，电源电压不同，功耗是非线性增加的。第7章 智能仪器的设计与调试（2）尽量选用CMOS集成电路。CMOS电路的最大优点是微功耗（静态功耗几乎为零），
45、其次优点是输出逻辑电平摆幅大，抗干扰能力强，工作温度范围宽。（3）采用电池低电压供电。系统功耗和系统电源电压存在一定的函数关系。电源电压越高，系统功耗越大。（4）尽量使用高速低频工作方式。CMOS集成电路的静态功耗几乎为零，仅在逻辑状态发生转换期间，电路有电流流过。它的动态功耗和逻辑转换频率成正比，和电路的逻辑状态转换时间成反比，因此，CMOS集成电路从降低功耗的角度上来说应当快速转换、低频率地工作。第7章 智能仪器的设计与调试（5）充分利用微控制器上集成的功能。微控制器已经将许多硬件集成到一块芯片中，使用这些功能比用扩展方式扩展外围电路要有效得多，单片化的成本比使用扩展方式低，而且性能更好。
46、如外围器件的驱动电压很难降低到微处理器芯片的水平，微处理器可以降到1.8V，外围电路降到3V恐怕有相当多的芯片就会工作不稳定，而微控制器内部集成的硬件却可以有更好的电压适应能力。（6）选用低功耗高效率的外围器件和电路。在必须选择使用某些外围器件时，尽可能选择低功耗、低电压、高效率的外围器件，如LCD液晶显示器、EEPROM等。此外，尽量选用低功耗、高效率的电路形式。低功耗电路以低功耗为主要技术指标，它不盲目追求高速度和大的驱动能力，以满足要求为限度，因而电路的工作电流都较小。第7章 智能仪器的设计与调试（7）妥善处理芯片闲置引脚。CMOS电路是电压控制器件，它的输入阻抗很高。如果输入引脚浮空，
47、在输入引脚上很容易积累电荷，产生较大的感应电动势。由于CMOS输入端都有保护电路，虽然感应电动势不会损坏器件，但很容易使输入引脚电位处于过渡区域。这时反相器P沟道和N沟道两个场效应管均处于导通状态，使电路功耗大大增加。因而CMOS电路的输入引脚不能浮空。第7章 智能仪器的设计与调试7.2.5硬件中的抗干扰技术硬件中的抗干扰技术1.干扰及干扰的抑制干扰及干扰的抑制干扰的形成必须具备三个条件，即干扰源、传输或耦合的通道以及对干扰问题敏感的接收电路。为了解决智能仪器的抗干扰问题，首先必须找出干扰的来源以及干扰窜入系统的途径，然后采取相应的对策，抑制或消除干扰。第7章 智能仪器的设计与调试1）干扰的来
48、源产生干扰的原因十分复杂，有时很难查找。归纳起来主要有以下几种情况：（1）自然因素。如宇宙射线、太阳黑子、雷电等导致的干扰。（2）周围设备。如动力线路中的火花与电弧；汽车的点火装置；各种电机、电气设备的接通与断开引起的电网冲击；高频设备、可控硅设备引起的电源波形畸变；电磁场发射、静电干扰等。（3）元器件物理性质。如分布电容、热噪声、散粒噪声等引起的干扰。（4）结构设计不合理。如印刷板布线不合理、元器件布设位置不当等引起的干扰。第7章 智能仪器的设计与调试2）干扰的耦合方式）干扰的耦合方式干扰的耦合方式一般可以归纳为以下几种：（1）传导耦合。干扰通过导线进入电路，称为传导耦合。电源线、输入输出线
49、等都有可能将干扰引入仪器。例如，由交流电源进线引入的高频干扰，其频带甚宽，这种高频成分的干扰信号是在电网中大的负载切换时产生的。当电网中有大的感性负荷或可控硅切换时，便会产生瞬时电压，引起电网电压波形的畸变，如图74所示。这一干扰电压主要将沿着电源引入线变压器仪器系统大地负载突变处的途径传播。第7章 智能仪器的设计与调试图74负载切换引起的电网电压畸变示意图第7章 智能仪器的设计与调试（2）公共阻抗耦合。在智能仪器中，电路各部分之间经常是共用电源和地线的。这样，电源和地线的阻抗就成了各部分之间的公共阻抗，当某部分的电流经过公共阻抗时，阻抗的压降就成了其他部分的干扰信号。图75是电源内阻引起干扰
50、的示意图，仪器N个电路共用一个电源，因内阻抗和线路阻抗的影响，电路N中电流的任何变化均会影响电路1N1的工作。图76是公共地线阻抗耦合干扰信号的示意图。图中（a）、（b）两种情况下，两部分电路的信号变化会互相干扰，（c）中的接地措施则可避免这种干扰。第7章 智能仪器的设计与调试图75公共电源内阻耦合干扰第7章 智能仪器的设计与调试图76公共地线阻抗耦合的情况第7章 智能仪器的设计与调试（3）静电耦合。在系统内部，元件之间、元件和导线之间等，均存在着分布电容。各种干扰信号很容易通过分布电容进行传递，这也称为静电耦合。图77是两根平行导线之间的静电耦合情况。第7章 智能仪器的设计与调试图77两根平
